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設(shè)計(jì)基礎(chǔ)理論
依照設(shè)計(jì)理論可得知隨著目標(biāo)頻率的變更,石英晶振晶片設(shè)計(jì)失效值亦隨之改變,若設(shè)計(jì)值碰觸上圖中的輪廓震蕩線(xiàn)則產(chǎn)品會(huì)產(chǎn)生Dip而造成模組失效風(fēng)險(xiǎn),故需因應(yīng)調(diào)整設(shè)計(jì)避免發(fā)生頻率發(fā)生Dip的現(xiàn)象。
晶片開(kāi)發(fā)若透過(guò)試錯(cuò)法將花費(fèi)大量時(shí)間與資源,這樣一來(lái)不但無(wú)法滿(mǎn)足客戶(hù)即時(shí)的需求并且也消耗大量?jī)?nèi)部資源。希華透過(guò)軟體模擬設(shè)計(jì)從模型建立而后執(zhí)行FEM分析(Finite Element Analysis),來(lái)得知特定設(shè)計(jì)是否存在寄生震蕩或輪廓震蕩,并且可分析出最佳設(shè)計(jì)區(qū)段從而做到有效率的尋找晶片最佳設(shè)計(jì)。領(lǐng)先同行SIWARD CRYSTAL引領(lǐng)世界的心跳.